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MBIST
第一章、Introduction to Tessent MBIST
第二章、Standard MBIST Flow
第三章、Clocks and Clock DRCs
第四章、DefaultsSpecification and DFTSpecification
第五章、MBIST Hierarchical Top level Flow
第六章、MBIST debug Patterns
第七章、Build-in Self Repair
第八章、Additional Topic
Scan chain
第一章 scan introduction and overriew
第二章 Scan testing and flows
第三章 Test protocol
第四章 DFT design rule checks
第五章 DFT DRC GUI debug
第六章 DRC fixing
第七章 Top-Down scan insertion
第八章 Core Wrapper insertion
第九章 Scan Export
第十章 On-chip clocking(OCC)
第十一章 Advanced scan topics
第十二章 bottom up scan insertion
第十三章 Test Compression
ATPG
第一章 ATPG introduction and overview
第二章 Tessent ATPG setup
第三章 Test procedure introduction
第四章 ATPG modes
第五章 Low-Power ATPG and Timing Exceptions
?第六章 Pattern Validation
第七章 Graybox Generation
第八章 chip-level pattern generation and retargeting
第九章 Diagnosis
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